Methodology for the simulation of the variability of MOSFETs with polycrystalline high-k dielectrics using CAFM input data
- Ruiz, A.
- Couso, C.
- Seoane, N.
- Porti, M.
- Garcia-Loureiro, A.
- Nafria, M.
Revista:
IEEE Access
ISSN: 2169-3536
Ano de publicación: 2021
Tipo: Artigo