Methodology for the simulation of the variability of MOSFETs with polycrystalline high-k dielectrics using CAFM input data
- Ruiz, A.
- Couso, C.
- Seoane, N.
- Porti, M.
- Garcia-Loureiro, A.
- Nafria, M.
Zeitschrift:
IEEE Access
ISSN: 2169-3536
Datum der Publikation: 2021
Art: Artikel