Does the Threshold Voltage Extraction Method Affect Device Variability?

  1. Espineira, G.
  2. Garcia-Loureiro, A.J.
  3. Seoane, N.
Revista:
IEEE Journal of the Electron Devices Society

ISSN: 2168-6734

Año de publicación: 2021

Volumen: 9

Páginas: 469-475

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/JEDS.2020.3046122 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor
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