Does the Threshold Voltage Extraction Method Affect Device Variability?

  1. Espineira, G.
  2. Garcia-Loureiro, A.J.
  3. Seoane, N.
Zeitschrift:
IEEE Journal of the Electron Devices Society

ISSN: 2168-6734

Datum der Publikation: 2021

Ausgabe: 9

Seiten: 469-475

Art: Artikel

DOI: 10.1109/JEDS.2020.3046122 GOOGLE SCHOLAR lock_openOpen Access editor
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