Analysis of Fluctuation Sensitivity Map Algorithms Applied to a 10nm GAA NW FET

  1. Andrés, P.
  2. Seoane, N.
  3. García-Loureiro, A.J.
  4. Indalecio, G.
Actas:
Proceedings of the 2018 12th Spanish Conference on Electron Devices, CDE 2018

ISBN: 9781538657799

Año de publicación: 2018

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/CDE.2018.8597155 GOOGLE SCHOLAR

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Fuente de los datos: Scopus