Experimental characterization of peripheral photocurrent in CMOS photodiodes down to 65 nm technology

  1. Blanco-Filgueira, B.
  2. López, P.
  3. Roldán, J.B.
Revista:
Semiconductor Science and Technology

ISSN: 0268-1242,  1361-6641

Año de publicación: 2013

Volumen: 28

Número: 4

Tipo: Artículo

DOI: 10.1088/0268-1242/28/4/045011 GOOGLE SCHOLAR
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