Benchmarking of scaled InGaAs implant-free NanoMOSFETs

  1. Kalna, K.
  2. Seoane, N.
  3. García-Loureiro, A.J.
  4. Thayne, I.G.
  5. Asenov, A.
Revista:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Año de publicación: 2008

Volumen: 55

Número: 9

Páginas: 2297-2306

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TED.2008.927658 GOOGLE SCHOLAR
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