Benchmarking of scaled InGaAs implant-free NanoMOSFETs

  1. Kalna, K.
  2. Seoane, N.
  3. García-Loureiro, A.J.
  4. Thayne, I.G.
  5. Asenov, A.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Electron Devices

ISSN: 0018-9383

Datum der Publikation: 2008

Ausgabe: 55

Nummer: 9

Seiten: 2297-2306

Art: Artikel

DOI: 10.1109/TED.2008.927658 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus