Impact of intrinsic parameter fluctuations on the performance of HEMTs studied with a 3D parallel drift-diffusion simulator

  1. Seoane, N.
  2. García-Loureiro, A.J.
  3. Kalna, K.
  4. Asenov, A.
Zeitschrift:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Datum der Publikation: 2007

Ausgabe: 51

Nummer: 3

Seiten: 481-488

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.SSE.2007.01.030 GOOGLE SCHOLAR

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