INTERFEROMETRO DE DIFRACCION POR ORIFICIO, IDO, PARA INSPECCION Y MEDIDA DE COMPONENTES OPTICOS OFTALMICOS.

    Inventores/as:
  1. EVA MARIA ACOSTA PLAZA
  2. CHAMADOIRA HERMIDA, SARA
  1. Universidade de Santiago de Compostela
    info

    Universidade de Santiago de Compostela

    Santiago de Compostela, España

ES
Publicación principal:

ES2279665A1 (16-08-2007)

Otras Publicaciones:

ES2279665B2 (16-04-2008)

Solicitudes:

P200500019 (23-12-2004)

Imagen de la patente

Resumo

Interferómetro de difracción por orificio, IDO, para inspección y medida de componentes ópticos oftálmicos, que comprende una fuente de radiación (1), un sistema de lentes (3), un soporte adecuado a cada tipo de componente oftálmico bajo test (4), una lente focalizadora (5), una lámina semitransparente con un orificio (6) y un sistema de adquisición de imágenes (10). El orificio genera una onda cuasi-esférica de referencia que interfiere con la porción del haz que pasa por fuera del mismo. El patrón de interferencia proporciona las características ópticas del componente, incluyendo defectos. Debido a que el tamaño del orificio de la lámina semitransparente es mayor que el limitado por difracción de la onda que sobre él incide, el interferómetro resulta robusto y de fácil alineamiento.

INVENES: P200500019