Capture cross section measurements of Os-186,Os-187,Os-188 at n_TOF: the resolved resonance region
- Fujii, K.
- Mosconi, M.
- Milazzo, P. M.
- Domingo-Pardo, C.
- Kaeppeler, F.
- Mengoni, A.
- Abbondanno, U.
- Aerts, G.
- Alvarez, H.
- Alvarez-Velarde, F.
- Andriamonje, S.
- Andrzejewski, J.
- Assimakopoulos, P.
- Audouin, L.
- Badurek, G.
- Baumann, P.
- Becvar, F.
- Berthoumieux, E.
- Calvino, F.
- Calviani, M.
- Cano-Ott, D.
- Capote, R.
- Carrapico, C.
- Cennini, P.
- Chepel, V
- Chiaveri, E.
- Colonna, N.
- Cortes, G.
- Couture, A.
- Cox, J.
- Dahlfors, M.
- David, S.
- Dillmann, I
- Dridi, W.
- Duran, I
- Eleftheriadis, C.
- Embid-Segura, M.
- Ferrant, L.
- Ferrari, A.
- Ferreira-Marques, R.
- Furman, W.
- Goncalves, I
- Gonzalez-Romero, E.
- Gramegna, F.
- Guerrero, C.
- Gunsing, F.
- Haas, B.
- Haight, R.
- Heil, M.
- Herrera-Martinez, A.
- Igashira, M.
- Jericha, E.
- Kadi, Y.
- Karadimos, D.
- Karamanis, D.
- Kerveno, M.
- Koehler, P.
- Kossionides, E.
- Krticka, M.
- Lampoudis, C.
- Leeb, H.
- Lindote, A.
- Lopes, I
- Lozano, M.
- Lukic, S.
- Marganiec, J.
- Marrone, S.
- Martinez, T.
- Massimi, C.
- Mastinu, P.
- Moreau, C.
- Neves, F.
- Oberhummer, H.
- O'Brien, S.
- Pancin, J.
- Papachristodoulou, C.
- Papadopoulos, C.
- Paradela, C.
- Patronis, N.
- Pavlik, A.
- Pavlopoulos, P.
- Perrot, L.
- Pigni, M. T.
- Plag, R.
- Plompen, A.
- Plukis, A.
- Poch, A.
- Praena, J.
- Pretel, C.
- Quesada, J.
- Rauscher, T.
- Reifarth, R.
- Rubbia, C.
- Rudolf, G.
- Rullhusen, P.
- Salgado, J.
- Santos, C.
- Sarchiapone, L.
- Savvidis, I
- Stephan, C.
- Tagliente, G.
- Tain, J. L.
- Tassan-Got, L.
- Tavora, L.
- Terlizzi, R.
- Vannini, G.
- Vaz, P.
- Ventura, A.
- Villamarin, D.
- Vincente, M. C.
- Vlachoudis, V.
- Vlastou, R.
- Voss, F.
- Walter, S.
- Wiescher, M.
- Wisshak, K.
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- Bersillon, O (coord.)
- Gunsing, F (coord.)
- Bauge, E (coord.)
- Jacqmin, R (coord.)
- Leray, S (coord.)
ISBN: 978-2-7598-0090-2
Año de publicación: 2008
Páginas: 599-600
Congreso: International Conference on Nuclear Data for Science and Technology
Tipo: Aportación congreso