Intrinsic fluctuations induced by a high-kappa gate dielectric in sub-100 nm Si MOSFETs

  1. Garcia-Loureiro, AJ
  2. Kalna, K
  3. Asenov, A
Colección de libros:
NOISE AND FLUCTUATIONS
  1. Gonzalez, T (coord.)
  2. Mateos, J (coord.)
  3. Pardo, D (coord.)

ISSN: 0094-243X

ISBN: 0-7354-0267-1

Ano de publicación: 2005

Volume: 780

Páxinas: 239-242

Congreso: 18th International Conference on Noise and Fluctuations

Tipo: Achega congreso

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Fonte de datos: WoS