3D Monte Carlo Study of Scaled SOI FinFETs Using 2D Schrodinger Quantum Corrections
- Elmessary, Muhammad A.
- Nagy, Daniel
- Aldegunde, Manuel
- Lindberg, Jari
- Dettmer, Wulf G.
- Peric, Djordje
- Garcia-Loureiro, Antonio J.
- Martinez, Antonio
- Kalna, Karol
ISSN: 2330-5738
ISBN: 978-1-4799-3718-9
Año de publicación: 2014
Páginas: 97-100
Congreso: 15th International Conference on Ultimate Integration on Silicon (ULIS)
Tipo: Aportación congreso