Methodology for the Simulation of the Variability of MOSFETs with Polycrystalline High-k Dielectrics Using CAFM Input Data
- Ruiz, A.
- Couso, C.
- Seoane, N.
- Porti, M.
- Garcia-Loureiro, A.J.
- Nafria, M.
Revista:
IEEE Access
ISSN: 2169-3536
Ano de publicación: 2021
Volume: 9
Páxinas: 90568-90576
Tipo: Artigo