Caracterización de dieléctricos por tdranálisis de errores aleatorios

Resumen

El trabajo está dedicado al análisis de los errores aleatorios que presenta un sistema de reflectometría en el dominio del tiempo (TDR), en su aplicaci]on a la caracterizaci]on electromagnética de dieléctricos. Se han analizado las diferentes contribuciones a la incertidunbre en las señales temporales medidas, utilizando como excitaci]on un escal]on de tensi]on con un de tiempo de subida de 35 ps, conducente a la caracterizaci]on de dieléctricos en un rango de frecuencias comprendido entre DC y 10 GHz. A tal efecto se ha desarrollado un método de simulaci]on de errores por Montecarlo que permite estimar la precisi]on de las magnitudes dieléctricas tanto en el dominio del tiempo (respuesta dieléctrica, tiempo de relajaci]on macrosc]opico) como en dominio de la frecuencia (permitividad dieléctrica compleja), utilizando medidas experimentales en primera reflexi]on. A su vez, se describe un método analítico para el cálculo de incertidumbres en el coeficiente de reflexi]on, en el dominio de la frecuencia, a partir de la adquisici]on de datos temporales. El estudio comprende los métodos estadísticos necesarios para la simulaci]on y posterior tratamiento de los resultados: generaci]on de números aleatorios, pruebas estadísticas z, x2, y F, establecimiento de intervalos de confianza, y pruebas de independencia de variables. También se establecen las relaciones entre las incertidumbres en los resultados finales y los parámetros de medida en el dominio del tiempo. El método de simulaci]on ha sido aplicado a la caracterizaci]on de diferentes dieléctricos (propanol-1, etanol, etilenoglicol, metanol, y clorobenceno) estableciendo un análisis comparativo con los resultados deducidos por otros autores. El trabajo comprende también el estudio de la inestabilidad del algoritmo de cálculo de la funci]on de respuesta dieléctrica basado en convoluci]on temporal obteniendo soluciones, basadas en filtrado digital,