PICOSEC-Micromegas: Robustness measurements and study of different photocathode materials

  1. Sohl, L.
  2. Bortfeldt, J.
  3. Brunbauer, F.
  4. David, C.
  5. Desforge, D.
  6. Fanourakis, G.
  7. Franchi, J.
  8. Gallinaro, M.
  9. García, F.
  10. Giomataris, I.
  11. González-Díaz, D.
  12. Gustavsson, T.
  13. Guyot, C.
  14. Iguaz, F.J.
  15. Kebbiri, M.
  16. Kordas, K.
  17. Legou, P.
  18. Liu, J.
  19. Lupberger, M.
  20. Manthos, I.
  21. Müller, H.
  22. Niaouris, V.
  23. Oliveri, E.
  24. Papaevangelou, T.
  25. Paraschou, K.
  26. Pomorski, M.
  27. Qi, B.
  28. Resnati, F.
  29. Ropelewski, L.
  30. Sampsonidis, D.
  31. Schneider, T.
  32. Schwemling, P.
  33. Scorsone, E.
  34. Van Stenis, M.
  35. Thuiner, P.
  36. Tsipolitis, Y.
  37. Tzamarias, S.E.
  38. Veenhof, R.
  39. Wang, X.
  40. White, S.
  41. Zhang, Z.
  42. Zhou, Y.
  43. Mostrar todos os autores +
Actas:
Journal of Physics: Conference Series

ISSN: 1742-6596,  1742-6588

Ano de publicación: 2019

Volume: 1312

Número: 1

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1088/1742-6596/1312/1/012012 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor
Fonte de datos: Scopus