Aging test of a real-size high rate MRPC for CBM-TOF wall
- Wang, Y.
- Fan, X.
- Chen, H.
- Wang, J.
- Gonzalez-Diaz, D.
- Li, Y.
- Cheng, J.
Revista:
Journal of Instrumentation
ISSN: 1748-0221
Año de publicación: 2012
Volumen: 7
Número: 11
Tipo: Artículo