Drift-Diffusion Versus Monte Carlo Simulated ON-Current Variability in Nanowire FETs
- Nagy, D.
- Indalecio, G.
- García-Loureiro, A.J.
- Espiñeira, G.
- Elmessary, M.A.
- Kalna, K.
- Seoane, N.
Revista:
IEEE Access
ISSN: 2169-3536
Ano de publicación: 2019
Volume: 7
Páxinas: 12790-12797
Tipo: Artigo