Drift-Diffusion Versus Monte Carlo Simulated ON-Current Variability in Nanowire FETs

  1. Nagy, D.
  2. Indalecio, G.
  3. García-Loureiro, A.J.
  4. Espiñeira, G.
  5. Elmessary, M.A.
  6. Kalna, K.
  7. Seoane, N.
Revista:
IEEE Access

ISSN: 2169-3536

Ano de publicación: 2019

Volume: 7

Páxinas: 12790-12797

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/ACCESS.2019.2892592 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor