Impact of threshold voltage extraction methods on semiconductor device variability

  1. Espiñera, G.
  2. Nagy, D.
  3. García-Loureiro, A.
  4. Seoane, N.
  5. Indalecio, G.
Zeitschrift:
Solid-State Electronics

ISSN: 0038-1101

Datum der Publikation: 2019

Ausgabe: 159

Seiten: 165-170

Art: Artikel

DOI: 10.1016/J.SSE.2019.03.055 GOOGLE SCHOLAR

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