FoMPy: A figure of merit extraction tool for semiconductor device simulations
- Espiñeira, G.
- Seoane, N.
- Nagy, D.
- Indalecio, G.
- García-Loureiro, A.J.
Konferenzberichte:
2018 Joint International EUROSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon, EUROSOI-ULIS 2018
ISBN: 9781538648117
Datum der Publikation: 2018
Ausgabe: 2018-January
Seiten: 1-4
Art: Konferenz-Beitrag