Antireflection self-reference method based on ultrathin metallic nanofilms for improving terahertz reflection spectroscopy

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Zeitschrift:
Optics Express

ISSN: 1094-4087

Datum der Publikation: 2018

Ausgabe: 26

Nummer: 15

Seiten: 19470-19478

Art: Artikel

DOI: 10.1364/OE.26.019470 GOOGLE SCHOLAR