3-D finite element monte carlo simulations of scaled Si SOI FinFET with different cross sections

  1. Nagy, D.
  2. Elmessary, M.A.
  3. Aldegunde, M.
  4. Valin, R.
  5. Martinez, A.
  6. Lindberg, J.
  7. Dettmer, W.G.
  8. Peric, D.
  9. Garcia-Loureiro, A.J.
  10. Kalna, K.
Revista:
IEEE Transactions on Nanotechnology

ISSN: 1536-125X

Ano de publicación: 2015

Volume: 14

Número: 1

Páxinas: 93-100

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TNANO.2014.2367095 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso aberto editor
Fonte de datos: Scopus