Variability characterisation of nanoscale Si and InGaAs FinFETs at subthreshold

  1. Indalecio, G.
  2. Seoane, N.
  3. Aldegunde, M.
  4. Kalna, K.
  5. García-Loureiro, A.J.
Actas:
2014 5th European Workshop on CMOS Variability, VARI 2014

ISBN: 9781479953998

Ano de publicación: 2014

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1109/VARI.2014.6957085 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable

Fonte de datos: Scopus