Combinación de métodos bayesanos y no paramétricos para el estudio de la razón de fallo en teoría de la fiabilidad
Editorial: Universidad de Santiago de Compostela
ISBN: 84-398-1304-X
Año de publicación: 1984
Tipo: Libro
Editorial: Universidad de Santiago de Compostela
ISBN: 84-398-1304-X
Año de publicación: 1984
Tipo: Libro