Analysis of mutually incoherent symmetrical illumination for electronic speckle pattern shearing interferometry
- Román, J.F.
- Moreno, V.
- Petzing, J.N.
- Tyrer, J.R.
ISSN: 0950-0340, 1362-3044
Datum der Publikation: 2006
Ausgabe: 53
Nummer: 11
Seiten: 1541-1559
Art: Artikel