Datos de investigación

Investigador/a: ANTONIO JESUS GARCIA LOUREIRO

2 datos de investigación referenciados

Datos de investigación referenciados por ANTONIO JESUS GARCIA LOUREIRO.

2023

Figures of merit that characterize silicon gate-all-around nanowire FETs affected by line edge roughness variability
Zenodo
Figures of merit that characterize silicon gate-all-around nanowire FETs affected by line edge roughness variability
Zenodo